HAST 老化箱用于半導體芯片加速濕熱老化試驗，設備運行過程中超溫保護頻繁跳機，會直接中斷試驗，損壞樣品，嚴重時造成腔體及電控部件損傷。檢修遵循先安全停機、后由簡到繁排查的原則，快速定位故障根源。

故障現象：設備升溫階段或恒溫保壓過程，隨機觸發超溫保護，切斷加熱輸出，面板報警，腔體內實際溫度與顯示溫度存在偏差，復位重啟后短時間內重復報警。

首先核查參數與風道循環。確認超溫保護閾值設置合理，保護溫度高于試驗設定溫度 5~10℃，檢查 PID 溫控參數是否紊亂，必要時執行 PID 自整定。查看箱內樣品擺放，樣品不可遮擋風道，清理腔體、循環風機葉輪處的樣品揮發殘留物。風機轉速衰減、風道堵塞會造成熱量局部積聚，形成熱點，是 HAST 箱誤報常見誘因。

其次檢測溫度傳感回路。斷電后檢查超溫保護探頭、主溫探頭接線端子有無氧化、松動，探頭表面被水汽、污染物包裹會造成測溫滯后。使用萬用表檢測傳感器阻值，對比標準值，出現漂移、阻值跳變時，需更換探頭并完成溫度校準。探頭安裝位置偏移貼近加熱器，也會持續采集局部高溫，頻繁觸發保護。

然后檢修加熱執行元件。固態繼電器 SSR 擊穿粘連是失控超溫的主要硬件故障，斷電測量 SSR 輸出端，若持續導通，代表繼電器無法斷開加熱回路，腔體持續升溫。同時檢查加熱器有無局部短路，接觸器觸點燒蝕情況，損壞元器件直接更換。

最后排查主控與安全回路。檢查溫控主板信號采集是否異常，線路有無老化短路。維修完成后空載試運行，觀察升溫曲線，確認無沖溫、無異常報警。日常維護中定期清潔腔體、校驗溫度傳感器，檢查門體密封，減少水汽腐蝕電控元件，降低故障復發概率。