HAST 高加速應力試驗箱，是電子半導體行業可靠性驗證的核心設備，通過高溫、高濕、高壓耦合環境加速濕氣誘發失效，快速評估封裝器件、PCB、汽車電子等產品耐濕熱老化能力，滿足 JESD22-A110、IEC60068 等測試標準。

工作原理：設備在密閉承壓腔體內，將溫度提升至 105~132℃，配合高壓環境提升水分子滲透驅動力，在非飽和無凝露工況下，加速水汽滲入材料縫隙與封裝內部，誘發分層、金屬腐蝕、電化學遷移等失效。相比傳統 85℃/85% RH 濕熱試驗，HAST 加速倍率可達數十倍，將數年自然老化效果壓縮至數十小時，高效暴露產品潛在濕氣缺陷。

主體結構分為承壓腔體、溫濕壓控制系統、安全防護單元。腔體采用 SUS316 不銹鋼圓筒結構，耐蒸汽腐蝕，承壓能力強；加熱加濕組件通過水盤蒸汽生成，配合壓力調節閥，實現溫度、濕度、壓力獨立調控；電控部分搭載 PLC 與觸控屏，支持程序編輯、數據記錄；安全系統包含超溫、超壓聯鎖、泄壓閥與自動門鎖，異常時自動停機泄壓，保障高壓試驗安全。

核心性能指標：溫度均勻度≤±1℃，濕度控制范圍 70%~98% RH，壓力穩定可控。設備區分飽和型與非飽和型，非飽和 HAST 不會產生冷凝滴水，更貼合真實服役濕熱應力。整機具備快速升壓、泄壓與降溫功能，試驗重復性好，批次測試數據一致性高。

應用上多用于半導體 IC 封裝潮敏等級驗證、車載電子元器件、塑封材料、線路板濕熱可靠性測試。在新品研發階段快速篩選薄弱樣品，縮短產品可靠性驗證周期，是芯片、電子零部件量產前可靠性評估試驗裝備。