近日，皓天鑫高精度恒溫恒濕試驗箱順利通過國內半導體企業驗收，正式投入芯片封裝元器件濕熱可靠性測試，憑借穩定的控制性能、可靠的連續運行能力，贏得客戶技術團隊高度認可，標志皓天鑫環境試驗方案在半導體精密檢測領域再添案例。

半導體芯片封裝器件集成度高，對溫濕度變化極其敏感，微小波動就可能引發封裝分層、金屬遷移、電性漂移等隱性失效。雙 85 濕熱、溫濕度交變等可靠性試驗是芯片研發與品控的關鍵環節，需要試驗設備長時間穩定輸出均勻溫濕度場，同時滿足 JEDEC 相關測試規范，對設備精度、防凝露設計、數據追溯都提出嚴苛要求。客戶前期對多家設備廠商進行對比評估，開展長時間樣機驗證，綜合考量控溫精度、重復性、運維成本及本地化售后能力，最終選擇皓天鑫恒溫恒濕試驗箱。

本次交付的恒溫恒濕試驗箱針對半導體測試場景優化升級，搭載智能 PID 調控系統與高精度傳感器，溫濕度控制響應快、波動小，箱內溫場均勻，有效保障試驗結果的一致性與可復現性。設備配備防凝露結構，避免水汽污染精密芯片樣品；支持多段程序設定、自動存儲試驗曲線，測試數據可追溯，方便實驗室報告歸檔。同時設置超溫、缺水、過載等多重安全保護，可滿足長時間不間斷老化測試需求。

客戶表示，設備安裝調試完成后，連續多輪驗證試驗數據穩定，達到實驗室預期指標。皓天鑫技術團隊全程跟進安裝、校準與操作培訓，高效的技術服務也是本次合作的重要考量。

此次獲半導體客戶認可，是市場對皓天鑫產品實力的肯定。未來，皓天鑫將持續深耕半導體、車規電子等可靠性測試賽道，不斷優化環境試驗設備性能，為國產芯片研發與品質驗證提供穩定可靠的試驗裝備支撐。

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