近日，皓天鑫與國內(nèi)半導(dǎo)體企業(yè)達成合作簽約，多臺高精度恒溫恒濕試驗箱將入駐客戶新建可靠性實驗室，雙方攜手共建標(biāo)準(zhǔn)化芯片環(huán)境測試平臺，為半導(dǎo)體封裝器件研發(fā)、工藝驗證與品質(zhì)篩查提供精密環(huán)境模擬支撐。

隨著半導(dǎo)體器件向小型化、高集成方向快速發(fā)展，芯片、功率器件、IC 封裝對溫濕度變化十分敏感。濕熱交變環(huán)境容易引發(fā)封裝分層、金屬遷移、引腳參數(shù)漂移等隱性失效。雙 85 高溫高濕、溫濕度循環(huán)等可靠性測試，是芯片研發(fā)與認(rèn)證的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，對試驗設(shè)備的控溫精度、溫場均勻性、長期連續(xù)運行能力提出高要求。客戶經(jīng)過多輪方案評估、樣機比對，綜合設(shè)備性能、數(shù)據(jù)可追溯能力、技術(shù)服務(wù)與售后響應(yīng)，最終選定皓天鑫恒溫恒濕試驗箱。

本次投入實驗室的皓天鑫可程式恒溫恒濕試驗箱，針對半導(dǎo)體測試場景做專項優(yōu)化。溫度范圍 - 40℃～150℃，濕度 10%～98% RH，溫度波動≤±0.3℃，箱內(nèi)溫濕度場均勻穩(wěn)定，支持 7×24 小時不間斷長期老化試驗，滿足 JEDEC、GB/T2423 等國內(nèi)外可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備采用 304 不銹鋼潔凈內(nèi)膽，搭配防靜電設(shè)計，降低樣品污染風(fēng)險；智能控制系統(tǒng)支持多段程序編輯，試驗數(shù)據(jù)自動保存導(dǎo)出，滿足實驗室審廠、測試溯源需求，可完成穩(wěn)態(tài)濕熱、溫濕度交變、儲存環(huán)境模擬等測試項目。

此次實驗室共建，不只是設(shè)備交付，更是技術(shù)協(xié)同的深度合作。皓天鑫技術(shù)團隊將全程參與實驗室搭建、設(shè)備安裝調(diào)試、操作培訓(xùn)，協(xié)助客戶建立規(guī)范的環(huán)境可靠性測試流程。

皓天鑫持續(xù)深耕環(huán)境可靠性試驗裝備研發(fā)，面向半導(dǎo)體、汽車電子、新能源等領(lǐng)域提供定制化測試解決方案。未來，皓天鑫將繼續(xù)發(fā)揮國產(chǎn)設(shè)備優(yōu)勢，持續(xù)優(yōu)化設(shè)備性能，與更多半導(dǎo)體企業(yè)協(xié)同創(chuàng)新，助力國產(chǎn)芯片提升可靠性水平，加速產(chǎn)品認(rèn)證與產(chǎn)業(yè)化落地。

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