近日，皓天鑫 HAST 老化試驗箱順利完成交付并投入使用，助力國內某半導體企業芯片加速老化可靠性驗證能力，為半導體封裝器件研發與品質管控提供堅實的環境試驗支撐。

隨著半導體行業快速發展，芯片、封裝元器件對耐濕熱、耐高壓加速老化測試要求持續提升。HAST 高壓加速老化試驗箱可模擬高溫高壓高濕嚴苛環境，大幅縮短元器件老化試驗周期，快速暴露封裝材料、引腳、膠體等潛在缺陷，是半導體封裝可靠性驗證核心設備。本次交付的皓天鑫 HAST 老化試驗箱，針對半導體芯片測試工況優化，腔體溫濕度控制穩定，壓力調節精度高，具備安全聯鎖、超溫超壓保護系統，滿足半導體行業嚴苛測試規范，可高效完成集成電路、分立器件等樣品的加速老化試驗。

項目落地階段，皓天鑫技術團隊全程跟進設備生產、出廠檢測、現場安裝調試與人員培訓工作。從設備進場就位、管路連接、通電校驗，到操作指導、試驗參數設置教學，每一步嚴格把控，保障設備一次性驗收合格。同時建立配套售后保障機制，為客戶提供長期校準、故障響應、定期維護等一站式服務，保障產線研發測試穩定運行。

本次合作，標志著皓天鑫環境試驗設備在半導體領域應用再進一步。皓天鑫將持續深耕可靠性試驗裝備研發，不斷優化 HAST、高低溫、冷熱沖擊等系列試驗設備性能，貼合芯片、功率半導體、車載電子等行業測試需求，以穩定可靠的試驗裝備與專業技術服務，助力更多半導體企業縮短研發周期，提升產品可靠性，護航國內半導體產業高質量發展。