近日，皓天鑫與國內半導體企業達成合作簽約，HAST 高壓加速老化試驗箱成功入駐該企業可靠性實驗室，為芯片封裝器件濕熱可靠性測試提供國產試驗裝備支撐，助力企業芯片研發與品質驗證體系，加快產品認證落地。

隨著半導體封裝技術持續迭代，BGA、QFN 等高密度封裝芯片對防潮、抗離子遷移能力要求不斷提高。HAST 高加速應力測試通過高溫、高壓、高濕復合應力環境，快速激發塑封分層、引腳腐蝕、漏電等隱性失效，將傳統濕熱上千小時驗證周期壓縮至數十小時，是半導體可靠性認證核心設備。

本次簽約的皓天鑫 HAST 老化試驗箱，嚴格遵循 JESD22-A110 行業標準設計，支持 UHAST 無偏壓、B-HAST 帶電偏壓多種測試模式。設備采用非飽和蒸汽控濕技術，有效避免樣品凝露造成假性失效；溫、濕、壓多參數耦合控制精度高，腔體內環境均勻穩定，保障試驗數據重復性。整機搭載超溫、超壓、缺水多重安全聯鎖保護，可長期穩定連續運行，適配芯片封裝材料選型、工藝優化與批量質量考核。

項目落地階段，皓天鑫將提供生產出廠校驗、現場安裝調試、實驗室人員操作培訓全流程服務，配套長期校準、定期巡檢、快速售后響應保障體系，保障實驗室常態化測試工作。

此次合作落地，標志皓天鑫環境試驗裝備在半導體可靠性領域的應用持續深化。未來皓天鑫將持續深耕半導體、車規電子測試場景，打磨高性能環境試驗設備，為國內芯片企業提供穩定可靠的可靠性測試解決方案，賦能國產半導體產業高質量發展。