HAST試驗箱 光通信器件高壓加速老化檢測儀

產品詳情
HAST試驗箱（Highly Accelerated Stress Test）是面向光通信器件的高壓加速老化檢測設備。通過在密閉壓力容器內施加高溫、高濕、高壓及可控偏壓，快速暴露器件在潮濕環境下的失效風險，常用于光模塊、激光器、探測器、光纖連接器及封裝組件的可靠性驗證。

HAST試驗箱 光通信器件高壓加速老化檢測儀

用途

• 光通信器件耐濕氣、耐高壓、耐高溫老化篩選

• 芯片、封裝、PCB、焊點、膠層吸濕與腐蝕評估

• 量產前可靠性驗證、來料篩選、失效分析

• 配合偏壓測試，評估絕緣、漏電與電化學遷移

技術參數

• 溫度范圍：105℃～135℃（可擴展至150℃）

• 濕度范圍：60%～100% RH（飽和/非飽和）

• 壓力范圍：0.1～0.3 MPa（約1～3 atm）

• 控制精度：溫度±0.5℃，濕度±2% RH

• 內箱尺寸：可定制，常見φ300×400mm等

• 偏壓通道：多路獨立，支持電壓/電流監測

• 控制方式：PLC+觸摸屏，程序曲線、數據記錄、報警保護

箱體結構與材質

• 內膽：316L不銹鋼，耐腐蝕、耐高壓

• 外箱：冷軋鋼板噴塑或不銹鋼拉絲

• 密封：耐高溫高壓密封圈，快開門結構

• 保溫：高密度保溫層，減少熱損失

• 安全：安全閥、超壓保護、超溫保護、門聯鎖

性能特點

• 溫濕度壓力控制穩定，波動小

• 升降溫快，恢復時間短

• 多路偏壓獨立控制，適配光器件測試

• 觸摸屏操作，支持程序編輯與數據導出

• 結構緊湊，維護方便，適合實驗室與產線

技術優勢

• 加速倍率高，幾十小時可模擬長期濕熱老化

• 非飽和控制更貼近實際失效機理

• 對光通信器件的低吸濕、低漏電要求適配性好

• 可定制腔體、夾具與偏壓方案

滿足標準

• JESD22-A110（HAST）

• JESD22-A118（無偏壓HAST）

• IEC 60068-2-66

• GB/T 2423.40

• 可配合MIL-STD、Telcordia等可靠性項目