近日，皓天鑫與某檢測院達成設備采購合作，皓天鑫 HAST 老化箱正式完成交付安裝，成功入駐該院元器件可靠性實驗室，為半導體元器件、電子組件高加速應力可靠性測試提供專業試驗裝備支撐，進一步實驗室可靠性驗證能力體系。

隨著電子元器件朝著小型化、高密度方向發展，產品耐濕熱、抗高壓蒸煮性能要求持續提升，HAST 高加速老化試驗成為元器件可靠性評價檢測項目。本次落地的皓天鑫 HAST 老化箱，依托高加速濕熱應力原理，在高溫高壓飽和水汽環境下，快速激發元器件潛在缺陷，大幅縮短可靠性驗證周期，可精準評估芯片、封裝器件、PCB 板等樣品在嚴苛濕熱環境下的失效風險。設備具備穩定的溫壓控制能力，箱內溫場分布均勻，壓力調節響應迅速，配套安全聯鎖保護機制，滿足行業相關可靠性測試標準，保障試驗數據重復性與準確性。

該檢測院元器件可靠性實驗室承擔大量電子元器件檢測、產品認證及科研驗證任務，原有試驗能力在高加速濕熱老化板塊存在短板。皓天鑫技術團隊結合實驗室檢測業務需求，完成設備選型、進場安裝、調試校準與操作培訓全流程服務，保障設備順利投入使用。HAST 老化箱的投用，補齊了實驗室高加速濕熱老化測試能力，可承接更多元器件可靠性檢測業務，提升檢測效率與業務覆蓋范圍。

皓天鑫深耕環境可靠性試驗設備領域多年，持續為第三方檢測機構、科研院所、半導體企業提供老化試驗、環境模擬整套解決方案。本次合作是雙方在可靠性檢測領域的良好開端。未來，皓天鑫將持續優化設備性能，做好后期運維技術支持，攜手檢測院共同提升電子元器件可靠性檢測水平，助力國內電子元器件產業高質量發展。