近日，皓天鑫 HAST 老化箱順利完成交付，正式入駐國內物聯網企業實驗室，將用于智能芯片高加速應力老化可靠性驗證，為物聯網終端產品品質管控與研發迭代提供關鍵試驗支撐。

隨著物聯網產業快速發展，智能芯片作為物聯網感知、數據傳輸的核心元器件，長期在溫濕度、壓力交變的復雜工況下工作，極易出現絕緣失效、封裝開裂等隱患。常規老化測試周期漫長，難以滿足企業新品快速上市需求。HAST 高加速應力試驗，通過高溫高壓高濕的強化環境，大幅縮短芯片老化試驗時長，快速暴露封裝、引腳、膠體等潛在缺陷，是芯片可靠性評價的重要手段。

本次交付的皓天鑫 HAST 老化箱，采用密閉式高壓腔體結構，精準控制腔內溫度、濕度與飽和蒸汽壓力，溫場均勻性優異，升溫升壓響應迅速。設備搭載智能控制系統，可預設多段試驗程序，實時采集并存儲試驗數據，具備超溫、超壓、缺水多重安全保護，運行穩定可靠，適配智能芯片、PCB 模組、傳感器元器件等樣品的高加速濕熱老化試驗，有效替代傳統蒸煮測試。

物聯網企業相關負責人表示，物聯網設備應用場景繁雜，芯片可靠性直接決定終端產品使用壽命。引入皓天鑫 HAST 老化箱后，實驗室可大幅壓縮可靠性驗證周期，提前篩選不合格芯片樣品，在研發階段識別材料與封裝缺陷，降低后期產品失效與售后風險，提升物聯網硬件產品市場競爭力。

皓天鑫深耕環境可靠性試驗設備領域多年，持續為半導體、物聯網、汽車電子行業提供老化測試解決方案。未來，皓天鑫將繼續優化 HAST 老化箱、高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱等產品性能，以可靠的試驗裝備，賦能芯片及電子元器件可靠性研發，助力國內物聯網產業高質量發展。