近日，皓天鑫 HAST 高壓加速老化試驗(yàn)箱順利完成交付、現(xiàn)場(chǎng)安裝調(diào)試與驗(yàn)收工作，正式入駐國(guó)內(nèi)某半導(dǎo)體企業(yè)可靠性實(shí)驗(yàn)室，為該企業(yè)芯片封裝濕熱可靠性測(cè)試提供國(guó)產(chǎn)高性能試驗(yàn)裝備支撐，加速新品研發(fā)與產(chǎn)品認(rèn)證進(jìn)程。

當(dāng)前半導(dǎo)體行業(yè)快速迭代，BGA、QFN 等封裝器件對(duì)耐濕熱、抗水汽滲透能力要求持續(xù)提升。HAST 高加速應(yīng)力試驗(yàn)依托高溫、高壓、高濕復(fù)合應(yīng)力環(huán)境，能夠快速激發(fā)塑封分層、金屬線路腐蝕、漏電、離子遷移等隱性失效問題，將傳統(tǒng)濕熱上千小時(shí)的驗(yàn)證周期壓縮至數(shù)十小時(shí)，是半導(dǎo)體芯片可靠性認(rèn)證的核心試驗(yàn)設(shè)備。

本次交付的皓天鑫 HAST 老化箱嚴(yán)格遵循 JESD22-A110 等半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，支持 UHAST 無偏壓、B-HAST 帶電偏壓多種試驗(yàn)?zāi)Ｊ剑珳?zhǔn)控制溫、濕、壓耦合參數(shù)，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定無凝露測(cè)試，規(guī)避芯片假性失效，保障試驗(yàn)數(shù)據(jù)穩(wěn)定可復(fù)現(xiàn)。設(shè)備搭載高精度傳感系統(tǒng)與多重安全聯(lián)鎖保護(hù)，腔體壓力、溫度、濕度控制均勻性優(yōu)異，適配半導(dǎo)體封裝材料選型、工藝優(yōu)化與批次質(zhì)量考核。

項(xiàng)目實(shí)施期間，皓天鑫技術(shù)團(tuán)隊(duì)全程跟進(jìn)設(shè)備進(jìn)場(chǎng)、管路對(duì)接、電氣調(diào)試，逐項(xiàng)校驗(yàn)壓力控制、升溫速率、數(shù)據(jù)采集等核心指標(biāo)，一次性通過客戶現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收。客戶表示，新增 HAST 設(shè)備補(bǔ)齊了高壓加速老化測(cè)試能力短板，大幅縮短芯片可靠性驗(yàn)證周期，提升新品研發(fā)效率。

此次成功交付，是皓天鑫在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試領(lǐng)域的又一次落地實(shí)踐。未來，皓天鑫將持續(xù)深耕環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)，面向半導(dǎo)體、汽車電子等領(lǐng)域持續(xù)優(yōu)化產(chǎn)品方案，以穩(wěn)定可靠的國(guó)產(chǎn)試驗(yàn)裝備賦能芯片企業(yè)品質(zhì)管控與技術(shù)創(chuàng)新。