近日，皓天鑫 HAST 高加速老化試驗箱完成安裝調試與驗收工作，正式落戶某大學可靠性研究院，為該院電子元器件、半導體封裝、新材料可靠性研究增添關鍵試驗裝備，補齊高壓高濕加速老化驗證能力，支撐高?；A科研與產學研項目開展。

隨著半導體、車規電子等技術快速發展，元器件長期服役可靠性成為科研重點方向。HAST 試驗依托高溫、高壓、高濕復合應力環境，能夠快速激發樣品封裝分層、水汽滲透、界面腐蝕等隱性缺陷，大幅縮短可靠性驗證周期，是電子材料與器件失效機理研究設備。

本次研究院經過多輪方案對比與性能評估，選定皓天鑫 HAST 老化箱。設備可精準調控溫、濕、壓參數，工作腔溫場均勻穩定，支持程序編輯、試驗數據存儲導出，符合 JESD、IEC、GB/T 等國內外可靠性測試標準，配備超溫、超壓、缺水、門聯鎖多重安全防護機制，兼顧科研試驗的精準性與安全性，適配芯片、PCB、傳感器、高分子封裝材料等試樣的加速老化與失效分析研究。

設備投用后，研究院可面向研究生教學、縱向課題研究、校企聯合可靠性項目開展 HAST 加速應力試驗，深入研究微電子器件在濕熱高壓環境下的老化失效規律，為國產電子材料與元器件可靠性技術攻關提供試驗數據支撐。

此次與高校可靠性研究院達成合作，是皓天鑫在科研裝備領域的又一落地成果。未來皓天鑫將持續深耕環境可靠性試驗設備研發，不斷優化產品性能與配套技術服務，持續為國內高校、科研院所、技術企業提供穩定可靠的環境試驗解決方案，助力國產可靠性測試裝備科研應用與產學研協同創新發展。